XQ6J-GIII (激光球面干涉儀) XQ6J-GIII Laser Interferometer

XQ6J-GⅢ型球面干涉儀主要用于精密光學平面和球面的面型測量，球面曲率半徑測量，光學系統波前測量,光學材料均勻性測量,干涉圖像既能目視觀察也能通過監視器展現，方便觀測。是光學元件加工廠、光學儀器生產廠、大專院校、職工培訓機構以及計量單位必備的光學檢測儀器及教學設備。

功能齊全、操作簡便,、經濟實用。球面零件曲率半徑R值和面形精度實現了同機測量，為使用者省去了制作標準樣板的煩腦更降低了生產成本。